【仪器简介】
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2nm的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
【功能/应用范围】
纳米材料，高分子材料，半导体材料，介观材料，微孔材料等的形貌观察、结构分析和微区在线元素分析。
【主要附件】
能量散射X射线分析系统（EDS），Oxford，INCA CCD相机，1K*1K，Gatan794 TV相机，Gatan 双倾加热台（Heating Specimen Holder），Gatan，*高加热温度1000摄氏度 Piezo漂移补偿系统 JEE400蒸镀仪
主要技术指标：点分辨率0.23nm，晶格分辨率0.14nm，放大倍率200-1500000。
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